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宁波东方理工大学及宁波市东方理工高等研究院 - 竞价公告(CMEIAS2026000115)

公告-招标公告

浙江 -宁波

发布时间： 2026年10月27日

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**** - 竞价公告(****)

发布时间:2026-10-27 16:59:28 截止时间:2026-11-03 13:30:00

申购主题: 椭偏仪设备采购

报价要求: 国产含税

发票类型: 增值税专用发票

付款方式: 货到验收合格后付款,如有其他付款要求,请在竞价时注明

收货地址: **省/**市/**区/****

供应商资质: 未****大学/宁****研究院不诚信行为供应商的

备注说明: 1.需要送货上门,安装调试,不接受快递物流2.需要全新正品

送货时间: 合同签订后90天送达

安装要求: 免费上门安装(含材料费)

预算: 465000.0人民币

采购内容数量/单位预算单价品牌型号规格参数质保及售后服务附件

椭偏仪	1.0/台	465000.0	颐光科技	SE-Mapping	[{"key":"1","value":"1.光谱范围:≥250-1000nm\r\n2.光谱测量间隔:<1nm @UV-VIS\r\n3.单点测量时间:<10s\r\n4.光斑尺寸:<500μm,消透明衬底背反\r\n5.光强调节方式:≥5档光强切换挡,根据光强信息切换最佳挡位\r\n6.偏振参数:Mueller Matrix:16组,Psi:0-90°,Delta:-90-270°\r\n7. Mapping功能:200mm200mm(2/4/6/8 inches wafer)全片自定义多点定位测量能力\r\n8.找焦功能:≥15mm,自动找焦\r\n9.样品台:X/Y/Z自动,满足尺寸φ200mm样件真空负压吸附固定测量\r\n10.膜厚重复精度:优于0.01nm(100nm SiO2/Si,30 repeats,1σ)\r\n11.折射率重复精度:优于0.0005(***@632.8nm,100nm SiO2/Si,30 repeats,1σ)\r\n12.偏振精度:非对角元素m=0±0.005(测量裸硅全波段90%满足)\r\n13.退偏指数:优于±0.5%(测量裸硅,全波段90%满足)\r\n14.分析软件:数百种的光学材料常数数据库,并支持用户自定义光学材料库;具备多层各向同性/异性光学薄膜建模仿真与分析功能\r\n15.测控服务器:CPU:Intel core i7 processor,RAM:≥8G,ROM:≥1T(SDD+HDD),显示器:≥22寸, windows操作系统","important":true}]	一年质保,供应商需承担设备运输保险、安装调试、验收等流程产生的所有费用。提供免费设备操作使用及建模分析培训。
椭偏仪	1.0/台	465000.0	**煜康	DUK-XT	[{"key":"1","value":"1.光谱范围:≥250-1000nm\r\n2.光谱测量间隔:<1nm @UV-VIS\r\n3.单点测量时间:<10s\r\n4.光斑尺寸:<500μm,消透明衬底背反\r\n5.光强调节方式:≥5档光强切换挡,根据光强信息切换最佳挡位\r\n6.偏振参数:Mueller Matrix:16组,Psi:0-90°,Delta:-90-270°\r\n7. Mapping功能:200mm200mm(2/4/6/8 inches wafer)全片自定义多点定位测量能力\r\n8.找焦功能:≥15mm,自动找焦\r\n9.样品台:X/Y/Z自动,满足尺寸φ200mm样件真空负压吸附固定测量\r\n10.膜厚重复精度:优于0.01nm(100nm SiO2/Si,30 repeats,1σ)\r\n11.折射率重复精度:优于0.0005(***@632.8nm,100nm SiO2/Si,30 repeats,1σ)\r\n12.偏振精度:非对角元素m=0±0.005(测量裸硅全波段90%满足)\r\n13.退偏指数:优于±0.5%(测量裸硅,全波段90%满足)\r\n14.分析软件:数百种的光学材料常数数据库,并支持用户自定义光学材料库;具备多层各向同性/异性光学薄膜建模仿真与分析功能\r\n15.测控服务器:CPU:Intel core i7 processor,RAM:≥8G,ROM:≥1T(SDD+HDD),显示器:≥22寸, windows操作系统","important":true}]	一年质保,供应商需承担设备运输保险、安装调试、验收等流程产生的所有费用。提供免费设备操作使用及建模分析培训。
椭偏仪	1.0/台	465000.0	科兴科学	SE100	[{"key":"1","value":"1.光谱范围:≥250-1000nm\r\n2.光谱测量间隔:<1nm @UV-VIS\r\n3.单点测量时间:<10s\r\n4.光斑尺寸:<500μm,消透明衬底背反\r\n5.光强调节方式:≥5档光强切换挡,根据光强信息切换最佳挡位\r\n6.偏振参数:Mueller Matrix:16组,Psi:0-90°,Delta:-90-270°\r\n7. Mapping功能:200mm200mm(2/4/6/8 inches wafer)全片自定义多点定位测量能力\r\n8.找焦功能:≥15mm,自动找焦\r\n9.样品台:X/Y/Z自动,满足尺寸φ200mm样件真空负压吸附固定测量\r\n10.膜厚重复精度:优于0.01nm(100nm SiO2/Si,30 repeats,1σ)\r\n11.折射率重复精度:优于0.0005(***@632.8nm,100nm SiO2/Si,30 repeats,1σ)\r\n12.偏振精度:非对角元素m=0±0.005(测量裸硅全波段90%满足)\r\n13.退偏指数:优于±0.5%(测量裸硅,全波段90%满足)\r\n14.分析软件:数百种的光学材料常数数据库,并支持用户自定义光学材料库;具备多层各向同性/异性光学薄膜建模仿真与分析功能\r\n15.测控服务器:CPU:Intel core i7 processor,RAM:≥8G,ROM:≥1T(SDD+HDD),显示器:≥22寸, windows操作系统","important":true}]	一年质保,供应商需承担设备运输保险、安装调试、验收等流程产生的所有费用。提供免费设备操作使用及建模分析培训。

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